ETH Zürichi teadlased on välja töötanud mitmeotstarbelise piksli, mis suudab korraga nii valgust kiirata kui ka mõõta. Traditsioonilised pikslid täidavad tavaliselt vaid üht funktsiooni — kas valgustavad ekraani või püüavad valgust kaamerasensoris. Professor David Norrise juhitud meeskond optiliste materjalide laboris leidis viisi, kuidas need kaks funktsiooni ühendada.
Ajakirjas Nature avaldatud artiklis kirjeldatud meetod põhineb valguslainete interferentsimustrite mõõtmisel metallpinnal. Nii loodud “Fourier’ pikslid” suudavad luua ja tuvastada optiliste väljade amplituudi, faasi ning polarisatsiooni. Erinevalt tavalisest pikslist esindab Fourier’ piksel valguse ruumilist sagedust, mitte konkreetset heledust ühes punktis.
Järeldoktor Sander Vonki sõnul võimaldab Fourier’ analüüs ühendada amplituudi, faasi ja polarisatsiooni juhtimise ühel pikslil. Tehnoloogia avab võimalused kahesuunalisteks ekraanideks, mis suudavad samaaegselt pilte näidata ja jäädvustada, samuti holograafilisteks kuvariteks, optiliseks andmesideks ja kvantinfotöötluseks. Norris kavatseb lähitulevikus ühendada Fourier’ pikslid maatriksiks, et ehitada keerukamaid kaameraekraane.