Materjal võib pinnal tunduda veatu, kuid ei pruugi korralikult toimida. Põhjus peitub struktuuridefektides, mis on varjatud kahemõõtmelistes õhukestes kiledes — materjalides, mida peetakse järgmise põlvkonna pooljuhtseadmete jaoks võtmetähtsusega. Korea teadlaste meeskond töötas välja optilise analüüsimeetodi, mis tuvastab need nähtamatud defektid valguse abil.
